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PCB電路板高壓加速壽命試（shì）驗

為確（què）保PCB電路板（bǎn）長時間使用的質量與可靠度，很多PCB電路板製（zhì）造廠（chǎng）家都進行SIR (Surface Insulation Resistance)表麵（miàn）絕緣電阻的試驗，透過其試驗方式（shì）找出PCB是否會發生MIG(離（lí）子遷移)與（yǔ）CAF(玻纖紗陽極性漏電)現（xiàn）象，離子遷移與是在加濕狀態下(如：85℃/85%R.H.)，施加恒定偏壓(如：50V···

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PCB電路板高壓加速壽（shòu）命試驗

為確保PCB電路板長時間使用的質量與可靠度，很多PCB電路板製造（zào）廠家都進行（háng）SIR (Surface Insulation Resistance)表（biǎo）麵（miàn）絕緣電阻的試驗（yàn），透過其試驗方式找出（chū）PCB是否會發生MIG(離子遷移)與CAF(玻纖紗陽極性漏電)現象，離子遷移與是在（zài）加濕狀態下(如：85℃/85%R.H.)，施加恒定偏（piān）壓(如：50V)，離（lí）子（zǐ）化（huà）金屬向相（xiàng）反電極間移動(陰極向陽極生長)，相對電極還原成原來的金屬並析出樹枝狀金（jīn）屬的現（xiàn）象，常造成短路，離（lí）子遷移非常脆弱，在通電瞬間產生的電流會使離子遷移本身溶斷消失。

試驗設備（bèi）：

HAST高壓加速壽命試驗機（jī）

設備特點：

1、低噪音設計，噪音值都控製在65dB 以下；

2、曲線和數據保存，所有的試驗數據和曲線可通過USB按日期選擇拷貝保存，可記錄（lù）保存120天數（shù）據（jù）及曲線（xiàn）；

3、緩降壓處理，可（kě）選排氣排水模式，防止（zhǐ）試驗結束後樣件（jiàn）受到急劇（jù）壓力、溫度或水分蒸發（fā）的（de）環境影響（xiǎng）。

MIG與CAF常用的規範：

IPC-TM-650-2.6.14.、IPC-SF-G18、IPC-9691A、IPC-650-2.6.25、MIL-F-14256D、ISO 9455-17、JIS Z 3284、JIS Z 3197等。

試（shì）驗時間通常一次就是1000h、2000h，對於產品的周期性來說（shuō）緩不應急，而HAST是一種試驗（yàn）手法也是設（shè）備名稱，HAST高壓加速壽命試驗機是提高環境應力(溫度&濕度&壓力)，在不飽和濕度環境下(濕度：85%R.H.)加快試（shì）驗（yàn）過程（chéng）縮（suō）短試驗時間，用來評定（dìng）PCB壓合&絕（jué）緣電（diàn）阻，與相關材料（liào）的吸濕效果狀況（kuàng），縮短高溫高濕的試驗（yàn）時間(85℃/85％R.H./1000h→110℃/85％R.H./264h)，

PCB的HAST試驗主（zhǔ）要參考規範為：

JESD22-A110-B、JPCA-ET-01、JPCA-ET-08。

應力與老化程度及加（jiā）速時間（jiān）示意圖

應力與老化程度及加速時間示意圖